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您的位置：首頁 - 產(chǎn)品中心 - 儀表，電子設(shè)備 - shimadzu - MCT-510/MCT-210shimadzu材質(zhì)測(cè)試 硬度計(jì) MCT系列 電阻測(cè)量和高溫下的測(cè)量 離子色譜儀
shimadzu材質(zhì)測(cè)試 硬度計(jì) MCT系列 電阻測(cè)量和高溫下的測(cè)量MCT-510/MCT-210的介紹
低試驗(yàn)力型（試驗(yàn)力范圍9.8～4903mN）、高試驗(yàn)力型（9.8～1961mN）、高分辨率型（位移范圍0.001μm～10μm）和寬量程測(cè)量型（0.01μm～100μm） , 并且通過將它們結(jié)合起來，可以對(duì)電子、陶瓷、微型機(jī)械、食品和藥品等各種微材料進(jìn)行抗壓強(qiáng)度測(cè)試。
產(chǎn)品型號(hào)：MCT-510/MCT-210廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2023-04-13訪 問 量：924
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| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 儀器種類 | 實(shí)驗(yàn)室 |
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shimadzu材質(zhì)測(cè)試 硬度計(jì) MCT系列 電阻測(cè)量和高溫下的測(cè)量MCT-510/MCT-210的介紹
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標(biāo)準(zhǔn)配備樣品量測(cè)量功能，可以評(píng)估測(cè)試材料的強(qiáng)度。
也可以觀察樣本是如何壓縮的（可選）。
它還可用于 PC 屏幕上的長度測(cè)量、導(dǎo)電微粒的電阻測(cè)量設(shè)備以及可以在將樣品加熱到 50°C 至 250°C 的同時(shí)進(jìn)行測(cè)試的系統(tǒng)。
可在壓縮過程中從橫向觀察樣品的變形狀態(tài)（選件）。
| 類型名稱 | MCT-510 | MCT-511 | MCT-210 | MCT-211 |
| 試驗(yàn)力 | 9.8～4903mN | 9.8～1961mN | ||
| 位移測(cè)量范圍 | 0-100μm | 0-10微米 | 0-100μm | 0-10微米 |
| 合規(guī)樣品 | 1μm以上的微量樣品（顆粒、纖維等） | |||
| 上壓板（壓頭） | 平面壓頭（直徑 50 μm） | |||
| 顯微鏡倍率 | 100x、500x（物鏡 10x/50x；目鏡 10x） *提供 200、400 和 1000x 選項(xiàng) | |||
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